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El revolucionario SmartScan de Park Systems automatiza el proceso de adquisición de imágenes con microscopios de fuerza atómica, produciendo imágenes de gran calidad con tan solo presionar un botón.


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El SmartScan de Park

«Usar el SmartScan de Park Systems es muy fácil y me permite tomar imágenes de una muestra con resolución nanométrica sin necesidad de llevar a cabo una laboriosa configuración manual. Y las imágenes son tan impresionantes como si las hubiera creado un usuario de AFM experto.»

SANTA CLARA, CALIFORNIA, 14 DE JULIO DE 2015

Park Systems, líder en microscopía de fuerza atómica (AFM, por sus siglas en inglés) desde 1997, ha presentado el Park SmartScan, una potente y pionera herramienta para AFM que aumenta drásticamente la productividad, al permitir crear imágenes fiables a escala nanométrica con tan solo un clic. SmartScan es un nuevo software de control para los sistemas de AFM de Park que supone una revolución en el mundo de la microscopía de fuerza atómica: al automatizar el proceso de adquisición de imágenes, transforma completamente la manera en que la AFM produce imágenes digitales a escala nanoscópica. El software de control SmartScan, lanzado recientemente y disponible solo para los sistemas de AFM de Park, permite que cualquier usuario, incluso aquellos sin entrenamiento ni experiencia, produzca imágenes de alta calidad a escala nanométrica en modo automático, con tan solo un clic de ratón y en cinco veces menos tiempo que si empleara un sistema de AFM tradicional.

El modo automático es muy sencillo de usar y elimina el arduo procedimiento de configuración, que requería una serie de pasos técnicamente complejos (hacer que el escáner Z descienda hasta a la muestra, acercar la punta a unos pocos nanómetros de ella sin golpearla y calcular la velocidad de exploración óptima) y tenía más de arte que de ciencia.

«Usar el SmartScan de Park Systems es muy fácil y me permite tomar imágenes de una muestra con resolución nanométrica sin necesidad de llevar a cabo una laboriosa configuración manual. Con el modo SmartScan, el microscopio de AFM realiza automáticamente el barrido de frecuencias y decide de manera inteligente los mejores ajustes de amplitud/frecuencia. Las imágenes son tan impresionantes como si las hubiera creado un usuario de AFM experto, lo que potencia aún más mi investigación. Estoy muy contento de que exista SmartScan». Jimmin Kim, de la Universidad Rutgers.

SmartScan automatiza completamente todas las funciones de configuración y toma de imágenes, que antes debía realizar a mano un operador. Esto significa que SmartScan toma decisiones sobre cómo configurar el equipo de adquisición de imágenes mediante AFM para producir una imagen óptima. Con el nuevo modo automático de SmartScan, los usuarios de AFM de Park obtendrán las imágenes que necesitan para sus investigaciones, sin el obstáculo que suponía hasta ahora la laboriosa configuración manual.

«SmartScan ofrece grandes ventajas a los usuarios sin experiencia en AFM, porque es realmente fácil producir una imagen topográfica sencilla en el modo sin contacto», explica Sibel Leblebici, un investigador en optoelectrónica que trabaja en la Molecular Foundry del Laboratorio Nacional Lawrence Berkeley, donde emplean instrumentos de AFM de Park para estudiar el desarrollo de materiales de captación de luz de última generación. «Nos basamos mucho en el modo de exploración PinPoint™ para realizar AFM conductiva. La posibilidad de ver curvas representativas de aproximación y separación generadas con el modo PinPoint hace que sea mucho más fácil seleccionar los parámetros para realizar una medición de AFM conductiva de gran calidad. La interfaz de usuario de SmartScan es mucho más intuitiva y sencilla de usar, lo que facilita mucho la formación de nuevos usuarios de AFM».

SmartScan también incluye una poderosa herramienta para crear secuencias de comandos (scripts), lo que permite diseñar experimentos avanzados que requieran una gran flexibilidad en la adquisición de datos. Además, SmartScan viene con una serie de macros incorporadas, que se pueden cargar muy fácilmente para aplicarlas a operaciones que se repiten, como mover los escáneres XY o Z a una posición específica o reiniciar el procedimiento. Es posible editar las macros existentes o crear otras nuevas cuando sea necesario, y también ajustar la configuración en tiempo real mediante secuencias de comandos, lo que permite automatizar muchos aspectos del uso del microscopio.

«Estamos tremendamente impresionados con las posibilidades que ofrece SmartScan para mejorar la metodología de nuestra investigación, ya que elimina la necesidad de llevar a cabo una larga formación y procedimientos que consumen mucho tiempo para obtener imágenes de AFM. Ahora, solo tenemos que pensar en lo que necesitamos y un instante después disponemos de la imagen, lo que simplifica nuestros servicios de análisis mediante AFM y hace que trabajar con la AFM sea más divertido», comenta el Dr. Byungki Kim, un usuario de los sistemas de AFM de Park.

En modo SmartScan, el equipo de AFM efectúa automáticamente el barrido de frecuencias y decide de manera inteligente los mejores ajustes de amplitud/frecuencia. Entonces, utiliza automáticamente esta información para hacer un FastApproach™ (pendiente de patente) y colocar el escáner Z muy cerca de la muestra de manera muy rápida y segura. Luego, durante la exploración, SmartScan utiliza AdaptiveScan™, otro sistema de Park pendiente de patente, para obtener una imagen de alta calidad hasta cinco veces más deprisa que con los métodos convencionales. Esta nueva velocidad de exploración servirá para mejorar significativamente la productividad tanto en la investigación académica como en la revisión y análisis de defectos con los instrumentos de AFM de Park.

Acerca de Park Systems
Park Systems es una compañía líder mundial en la fabricación de sistemas de microscopía de fuerza atómica (AFM), que dispone de toda una gama de productos para investigadores e ingenieros industriales de campos como la física, la química, la ciencia de materiales, las ciencias de la vida, los semiconductores o el almacenamiento de datos. Más de un millar de instituciones y compañías de todo el mundo utilizan los productos de Park. La AFM de Park proporciona datos de la mayor precisión a resoluciones nanométricas, una mayor productividad y menores costes de operación gracias a sus tecnologías únicas y su ingeniería innovadora. Park Systems, Inc. tiene su sede en Santa Clara, California, mientras que las oficinas centrales de producción e I+D se encuentran en Corea. Park dispone de puntos de venta y servicios de asistencia en todo el mundo, con sedes regionales en los EE.UU., Corea, Japón y Singapur, y socios distribuidores en Europa, Asia y América. Para más información, visite http://www.parkafm.com o llame al 408-986-1110.