Escaneo topográfico y electroquímico simultáneo, usando Scanning Ion ConductanceMicroscopy – Scanning Electrochemical Microscopy (SICM-SECM)

Desde la aparición del microscopio de efecto túnel (STM) [1], los científicos electroquímicos han buscado explotar las técnicas de microscopía de sonda de barrido (SPM), para así controlar la posición espacial de una sonda, esto, con el fin de facilitar el escaneo topográfico, conductimétrico y amperométrico/voltaico simultaneo de distintas superficies e interfaces